電気・電子-基本設計／複数名募集／東京都のエンジニア転職・求人情報

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LSIデジタル回路の設計・検証

掲載開始日：2026.10.30

仕事内容: LSIのテスト容易化設計（DFT）においてスキャン回路やメモリ自己テスト機能の設計・テストパターン生成・検証および不具合解析をご担当いただきます。＜具体的には＞・スキャン回路およびメモリ自己テスト機能の設計・実装・デザインルールチェックのエラーや警告の解析・テスト容易化設計用の制約ファイルの作成・検証・各種故障モデルに応じた自動テストパターン生成・テストパターン生成用設定ファイルの作成・解析・故障未検出箇所の原因分析および改善案の検討・遅延を考慮したシミュレーションの実施・タイミング違反の基礎解析・シミュレーション結果の不一致に関するデバッグ・設計・検証ツールを使用した各種解析・検証作業・TCLおよびシェルスクリプトの作成・修正/【担当製品】(半導体関連)半導体（ロジック）/【使用ツール】Pspice; HSPICE; VHDL; VerilogHDL; Virtuoso（cadence）; FPGA; マイコン; CPU

勤務地: 東京都渋谷区

給与: 月給35万円～45万円＋各種手当＋賞与年2回

＜求める人物像＞
・半導体のデジタル回路設計やテスト容易化設計の経験を活かし、専門技術をさらに深めたい方
・設計ルール違反や故障未検出の原因を粘り強く分析し、改善策を検討できる方
・設計・検証ツールやスクリプトを活用し、正確かつ論理的に業務を進められる方
＜就業環境の魅力＞
・就業時間は9時から18時で、フレックスタイム制を利用できます。
＜魅力・やりがい＞
・LSIの品質を支えるテスト容易化設計に携わり、半導体開発に欠かせない専門技術を磨けます。
・自動テストパターン生成や故障解析など、設計から検証まで幅広い技術領域を経験できます。
・不具合の原因を特定し、改善につなげることで、設計品質の向上に直接貢献できるやりがいがあります。

特徴